熱像儀提供材料的具體精確測量敘述如下：

1. 專注於測量高放射率或穿透力的光譜範圍

2. 熱氣體和火焰光譜以及玻璃和玻璃通過過濾片

3. 濾光片遮蔽了特定的光譜以避免光圈效應

具有高放射率的測量範圍減少測量誤差

在整個紅外線光譜材料的放射率值差異很大。一個明確高或低的放射光譜範圍內的熱影像測量，可能會導致檢測的特殊效果。當濾光片將被放置在紅外線熱像儀上，僅允許某固定範圍的輻射通過，此時高放射率的干擾背景能夠被最小化。這種方法可用於火焰測量。因此，在火焰上、下與後面的溫度將不會被影響測量結果。同樣的步驟當測量薄的鋁箔薄膜時，要真正量測鋁箔本身的溫度，也可以減少背景輻射的影響。

高穿透率的量測

在某些平譜範圍內，隔著一個中間介質，此介質材質的穿透率特別的高，且允許此中間介質背後材料的溫度量測。例如經熱像儀與燈絲之間，有著較冷的玻璃表面，燈絲能夠在不被影像的狀況下測量。

多個濾光片被接近於感測器

InfraTec提供多個濾光片用於不同的材質的溫度量測和應用，這些濾光片也能夠客製化，此類的濾光片皆適用於ImageIR^® 系列和長波長非致冷式的VarioCAM^® hr 固定型熱像儀。兩者提供一個固定架，使固定架具有濾光片轉盤，ImageIR^® 系列的濾光片轉盤能夠很方便的以機動性方式控制轉動以利選取適當的濾光片。溫度的光圈效應會被鏡頭前面的濾光片位置所影響，由InfraTec紅外線熱影像儀中的濾光片更接近感測器的位置可避免大範圍的量測誤差。